半导体阴极发光（CL）成像：原理、成像模式与应用
阴极发光（CL）如何帮助研究半导体材料的光学性质与局部差异？本期 Delmic 原厂 Webinar 从 CL 基本原理与 SEM 光收集出发，介绍强度成像、高光谱成像及相关分析方法，并结合埋藏结构、薄膜太阳能电池等案例，展示 CL 在半导体研究中的应用。
Webinar
阴极发光是如何产生的？——从发光机制到材料应用
当电子束照射样品时，材料内部会发生哪些过程，最终产生阴极发光（Cathodoluminescence, CL）？本期 webinar 将从阴极发光的基本原理出发，介绍相干与非相干发光、内禀与杂质相关发光，以及局域表面等离激元共振等现象，并结合地质、半导体等材料实例，展示阴极发光能够提供的研究信息。无论您刚接触阴极发光，还是希望进一步了解其物理机制与应用场景，都可以通过本期内容建立对 CL 的基础认识。
NenoVision LiteScope 测量操作教程｜AFM-in-SEM 原位测量流程演示
本期 webinar 将通过实际操作演示，介绍如何使用 NenoVision LiteScope 开展测量。从仪器与样品准备、探针定位，到启动 AFM 测量及查看数据，带您了解 LiteScope 的基本操作流程。LiteScope 可集成于扫描电子显微镜（SEM）中，实现样品的原位 AFM 测量，并结合 SEM 观察与 AFM 表面形貌分析。通过本次教程，您将进一步了解测量过程中的关键步骤，以及 AFM 与 SEM 关联分析如何帮助获取样品的微纳尺度信息。
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